紫外线照度计
美国extech SDL470紫外线照度计可测量UVA（长波）和UVC（短波）光源的紫外强度，具有日期/时间的数据记录功能，可将文件以Excel®格式保存在SD存储卡上。
可分别测量在UVA和UVC光源下的长波和短波紫外辐照强度。该仪表具有余弦校正滤波器，数据记录为Excel格式，用于相对测量的偏移调整，用于温度测量的K / J型热电偶输入（探头单独出售），记录/调用模式，数据保持以及自动关机功能。
SD470照度计的产品特点
• UVA探针可捕捉UVA（黑光）光源下的365nm UV长波辐照度测量值
• UVC探针可捕捉UVC光源下的254nm UV短波辐照度测量值
• 配有余弦校正滤光片和金属外壳
• 具有数据记录仪日期/时间戳，能够以MS Excel®格式将读数保存在SD卡上，方便对数据进行离线分析
• 具有用于归零功能的偏移调节，可进行相对测量
• 可以调节数据采样速率：1至3600秒
• 具有K/J型热电偶输入，可用于温度测量（探针单独出售）
• 大型背光式LCD显示屏
• 手动存储99个读数
• 可记录/调用大小值读数，具有数据保持和自动关机功能
SDL470紫外线照度计的技术参数
| 规格 | 量程 | 高分辨率 | 基本精度 |
| UVA长波 | 2mW/cm2，20mW/cm2 | 0.001mW/cm2 | ±4% FS |
| UVC短波 | 2mW/cm2，20mW/cm2 | 0.001mW/cm2 | ±4% FS |
| 频带宽度 | 365nm (UVA)；254nm (UVC) | ||
| K型温度 | -148至2372°F（-100至1300°C） | 0.1°F/°C | ±(0.4%±1.8°F/1°C) |
| J型温度 | -148至2192°F（-100至1200°C） | 0.1°F/°C | ±(0.4%±1.8°F/1°C) |
| 存储 | 手动：99个数据读数；SD存储卡：用于数据记录的SD存储卡 | ||
| 尺寸/重量 | (182x73x47.5mm)/ (475g) | ||
标准配置
SDL470长波/短波紫外照度计主机，内置倾斜支架、SD存储卡、带保护盖的UVA长波传感器、UVC短波传感器、硬质便携箱、通用交流适配器和6节AA电池
备案号：沪ICP备18009883号-3 技术支持：化工仪器网 GoogleSitemap 管理登陆
在线客服1号